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ROBUSTE FUNKTIONALITÄT FÜR INDUSTRIELLE ANWENDUNGEN

Die Panthera TEC Modelle bieten einen hohen Nutzen für die Inspektion von Halbleitern und Verbundwerkstoffen, insbesondere in der technischen Ausbildung und Qualitätskontrolle der Industrie. Hellfeld, Dunkelfeld und einfacher Polarisationskontrast werden mit einer neuen segmentalen Beleuchtung kombiniert. Dieses Konzept ermöglicht eine schräge Auflichtbeleuchtung, perfekt für die Erkennung von Kratzern oder anderen Defekten auf flachen und spiegelnden Oberflächen, ohne dass die Probe bewegt werden muss.

Die Panthera TEC BD-Modelle verfügen über LD Plan BD-Objektive mit hervorragender Abbildungsleistung, montiert auf einem 5-fach kodierten Objektivrevolver. Die Lichtintensität für jede Objektivposition wird automatisch gespeichert und wiederholt, sobald das Objektiv wieder eingeschwenkt wird. Die kompakte Epi-Beleuchtung verfügt über einen Steckplatz für Polarisator und Analysator, bereit für Polarisationskontrast und zur Reduzierung interner Reflexionen. Die Beleuchtungseinrichtung enthält auch die Bedienelemente für die Variation des einfallenden Lichts in Bezug auf Modus BF oder DF und Beleuchtungswinkel. Das erweiterte Sichtfeld von 22mm (FOV) bietet 21% mehr Sichtbereich im Vergleich zu einem einfachen 20mm FOV-System. Die Strahlenteilung der trinokularen Versionen (25° Betrachtungswinkel) ist auf 50/50 (vis/photo) festgelegt. Das Panthera TEC ist eindeutig auf die Materialwissenschaften ausgerichtet. Die Auflichtbeleuchtung wird von einer 3W-LED mit wählbarer Farbtemperatur erzeugt. Der Auflicht-/Durchlicht Stativtyp für Verbundwerkstoffe verfügt zusätzlich über ein Durchlicht-LED-Beleuchtungssystem mit 39 LEDs, die in einem LED-Kondensor montiert sind. Hier wird ein Tisch mit Glaseinsatz verwendet. Zwei Tischoptionen (6 "x4", 3 "x2") bieten Flexibilität für unterschiedliche Probenabmessungen. Die Panthera TEC Modelle schließen die letzte Lücke in der Panthera Familie. Jetzt können auch lichtundurchlässige Industrieproben mit erweitertem Bedienungskomfort untersucht werden: brillante Optiken für aussagekräftige Bildergebnisse, flexible Modelle für eine Vielzahl von Anwendungen und intelligente Funktionen in der Mikroskopsteuerung.